На главную
ПОМОЩЬ СТУДЕНТАМ!!!
Готовые решения задач по теормеху из методичек Тарга С.М. 1988 и 1989 г. и старых методичек 1978, 1982 и 1983гг.. Решение любых задач по термеху на заказ.
Если Вам нужны решения задач по Физике из методички Чертова А.Г. для заочников или решение задач из задачников Прокофьева, Чертова, Воробьёва и Волькинштейна или любых других решений по физике или гидравлике, воспользуйтесь сайтом fiziks.ru

Статья по теме: Отражения излучения

Область знаний: теплообменники, печи, теплоперенос, паровые котлы, нагревание, горение, топлива, теплообмен

Скачать полный текст

Сущность этого метода становится очевидной при рассмотрении отражения излучения между двумя плоскими поверхностями AI и А2 (фиг. 3.17). Примем для простоты, что поверхность А\ отражает диффузно, а поверхность А2 — зеркально, причем обе они излучают диффузно. Рассмотрим диффузное излучение элементарной площадки dAi,na поверхности Ль падающее вновь на AI после зеркального отражения от Л2 (фиг. 3.17). Прослеживая ход лучей, обнаруживаем, что излучение, испускаемое аА\, достигает А\ после одного зеркального отражения от, А2, как если бы оно исходило от диффузного источника dA\(2), являющегося мнимым изображением dA\ относительно поверхности А2. Этот факт составляет основу метода мнимого изображения. - . ' .[359, С.162]

Рис. 17-15. Зависимость коэффициента яркости лакокрасочных покрытий от углов падения и отражения излучения.[322, С.413]

Сопротивление излучению. Общее сопротивление излучению учитывает сложную конфигурацию топочной камеры, а также многократные отражения излучения от всех поверхностей, поглощение теплоты и вторичное излучение отражателями. Это сопротивление легко может быть определено по схеме излучения для приближенной модели. Схема излучения может быть составлена в соответствии с §2.9.6, т. 1. Для данной модели эта схема изображена на[453, С.116]

Отражательная способность 17> поверхности зависит не только от ее температуры и свойств, но и от направлений падающего и отраженного излучения. Поэтому в литературе используются различные определения для описания отражения излучения от элемента поверхности. Обсуждение различных концепций можно найти в работах [19 — 23]. Некоторые из этих концепций, касающиеся отражения излучения от поверхности, рассматриваются ниже.[359, С.45]

В рефлектометре с зеркальной полусферой |18—23] образец однородно облучается излучением полости (или любого источника, имеющего непрерывный спектр), отраженным от зеркала. В рефлектометре с интегрирующей сферой [8—10] диффузное облучение образца достигается путем отражения излучения источника от обладающей высокой отражательной способностью диффузной поверхности сферы. Многократные ртражения внутри сферы[452, С.458]

Торренс и Спэрроу [14] экспериментально определили зеркальную и диффузную составляющие отражательной способности для диэлектрика (плавленой поликристаллической окиси магния), имеющего шероховатость 0,16—5,8 мкм, в интервале длин волн 0,5—12 мкм при двух углах падения Ог-, равных 10 и 45°. За неимением подходящей теории для отражения излучения от шероховатой поверхности диэлектрика они попытались сопоставить свои эксперименты с теорией Дэвиса. Хоти эта теория, строго говоря, пригодна только для проводников, оказалось, что расчетные значения зеркальной составляющей отражательной способности хорошо согласуются с экспериментальными данными для диэлектрика.в диапазоне значений относительной среднеквадратичной шероховатости 0 < h/K < 0,05; однако при больших значениях h/K имело место расхождение результатов.[359, С.87]

В приведенных выражениях обозначения те же, что и для незащищенного термометра. Уравнение (14-40) показывает, что для уменьшения ошибки надо, чтобы все члены уравнения, относящиеся к излучению, были малы. Этого можно достигнуть, применяя для внешней стороны экрана материал с низкой излучательной способностью. Внутреннюю часть экрана надо окрасить в черный цвет, чтобы избежать отражения излучения стенки на термометр. Если возможно, поверхность термометра следует покрыть слоем, обладающим низкой излучательной способностью.[473, С.521]

Очевидно, что следует различать две категории радиационных характеристик: модельные характеристики, используемые для моделирования поведения поверхностей в программе для ЭВМ или в вычислительной схеме, и реальные характеристики, показывающие, как поверхность ведет себя в действительности. Ниже проведен обзор реальных характеристик и методов их измерения, затем обзор электромагнитной теории отражения излучения и, наконец, обсуждается использование характеристик поверхностей при конструировании тепловых устройств.[452, С.454]

По-видимому, в дальнейшем необходимы как теоретические, так и экспериментальные исследования влияния шероховатости поверхности на отражательную способность. Портеус [11] указывает на недостаточность таких параметров, как среднеквадратичная шероховатость и среднеквадратичный 'наклон, особенно если распределение шероховатости не является гауссовым. Для ознакомления с дальнейшими теоретическими исследованиями отражения излучения от шероховатой поверхности электропроводного материала рекомендуем обратиться к книге [18, гл. 3]. Обсуждение влияния дефектов поверхности на радиационные свойства поверхностей содержится в [19].[359, С.88]

При рассмотрении распространения излучения как электромагнитной волны обычно особое внимание уделяют плоским волнам, главным образом из-за простоты решения уравнений Максвелла в этом случае. Основная задача проводимого ниже анализа решения уравнений Максвелла состоит в том, чтобы показать, каким образом распространение излучения может быть представлено в виде движущихся плоских волн и как результаты этого подхода могут быть использованы при изучении процесса отражения излучения от поверхностей. Ниже будет рассмотрено распространение плоских волн как в-идеальном диэлектрике (т. е. в непроводящей среде), так и в проводящей[359, С.10]

падающее на поверхность, которое поглощается внутри тела. В тех случаях, когда значительная часть падающего излучения поглощается на очень небольшом расстоянии от поверхности, говорят, что излучение поглощается поверхностью. В аналогичных случаях говорят и об излучении поверхности. Учитывая эти особенности испускания и поглощения излучения поверхностью, перейдем к рассмотрению различных определений, относящихся к излучению, падающему на элемент поверхности и испускаемому им. Основное отличие излучения, падающего на элемент поверхности и испускаемого им, от излучения, падающего на элемент объема и испускаемого им, состоит в том, что в первом случае рассматривается излучение в пределах полусферического телесного угла (т. е. Q = 2л), в то время как во втором — излучение в пределах всей сферы (т. е. Q = 4л) . В данном разделе приводятся определения понятий поглощения, испускания и отражения излучения элементом поверхности.[359, С.45]

Полный текст статьи здесь

Задачи по теоретической механике из сборника курсовых работ под редакцией А.А. Яблонского, Тарга, Кепе, Диевского, Мещерского и любого другого на заказ. Быстро, качественно, все виды оплат, СМС-оплата.
Вы так же можете заказать решение задач и по другим предметам: химия, высшая математика, строймех, сопромат, электротехника, метрология, ДМ, ТММ и другие.

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

Перейти к перечню использованной литературы

На главную